Migration électrochimique: genèse et prévention des défaillances

Migration électrochimique: genèse et prévention des défaillances – Partie II

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[Dr. Helmut Schweigart]

La migration électrochimique est un phénomène qu’il faut prendre en considération pour la fiabilité et la longévité des cartes électroniques.

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UGS : FR-1906-02 Catégorie :

Description

[06/2019]

Cette deuxième partie traite de la prévention de la migration électrochimique. Tout en amont figurent le choix des matériaux (notamment des résines et des métallisations) et le design de la carte électronique (insistance sur l’isolation électrique…). Le choix du vernissage
est crucial –même si l’efficacité de celui-ci n’est optimale que s’il s’accompagne du nettoyage de la carte électronique.

Auteur(s)

helmut schweigart zestronDr. Helmut Schweigart
Directeur Reliability & Surfaces, ZESTRON EUROPE

Il est titulaire d’un doctorat dans le domaine de la fiabilité des modules électroniques et travaille chez ZESTRON Europe depuis les débuts de l’entreprise. Il est actuellement responsable du développement technologique. Il est également membre du conseil d’administration de la GfKORR (Gesellschaft für Korrosionsschutz – Société allemande pour la protection contre la corrosion) et membre actif de la GUS (Gesellschaft für Umweltsimulation – Société pour la simulation environnementale) et de l’IPC. Il a déjà publié de nombreux articles spécialisés.

 

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