Résistance des cartes électroniques aux mécanismes de défaillance induits par la contamination ionique

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[Dr. Helmut Schweigart; Freddy Gilbert]

Découvrez comment identifier & évaluer de manière fiable les causes de défaillance dues à la contamination ionique sur les cartes électroniques à l’aide du test ROSE et de la chromatographie ionique.

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Description

[02/2022]

Des méthodes de test pertinentes sont nécessaires pour répondre aux exigences élevées de l‘industrie électronique en matière de process de production, d‘assurance qualité et d‘amélioration continue. Dans ce contexte, le test ROSE s’est imposé comme une méthode rapide et fiable pour le contrôle de la propreté ionique. Avec la chromatographie ionique, on dispose pour la première fois d’une méthode avancée pour fixer les limites au test ROSE. Les deux méthodes et leurs champs d’application sont examinés dans cet article. La récente mise à jour de l’ IPC J-STD-001 concernant la valeur limite du test ROSE sera également discutée.

Auteur(s)

helmut schweigart zestronDr. Helmut Schweigart
Directeur Reliability & Surfaces, ZESTRON EUROPE

Il est titulaire d’un doctorat dans le domaine de la fiabilité des modules électroniques et travaille chez ZESTRON Europe depuis les débuts de l’entreprise. Il est actuellement responsable du développement technologique. Il est également membre du conseil d’administration de la GfKORR (Gesellschaft für Korrosionsschutz – Société allemande pour la protection contre la corrosion) et membre actif de la GUS (Gesellschaft für Umweltsimulation – Société pour la simulation environnementale) et de l’IPC. Il a déjà publié de nombreux articles spécialisés.

 

 

freddy gilbert zestronFreddy Gilbert
Technology Analyst, ZESTRON EUROPE

Freddy Gilbert a étudié les sciences des matériaux à l’école polytechnique de l’Université de Montpellier et à l’Université Technique de Berlin. En tant qu’analyste technologique au sein de l’équipe ZESTRON Reliability & Surfaces, il organise et effectue des coachings technologiques et des prestations analytiques sur cartes électroniques dans le domaine de l’analyse de défaillance, l’analyse d’état de surface et l’évaluation de risques de défaillances liés à l’humidité.

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